Квазиоптический метод измерения диэлектрической проницаемости в миллиметровом диапазоне частот
2001-12-12 00:00:00
При проведении в НИИ ЯП БГУ работ по созданию объемного лазера на свободных электронах (ОЛСЭ) возникает необходимость определения электродинамических свойств диэлектрических материалов, используемых в резонаторах и волноводах…
Номер статьи
7310
Название
Квазиоптический метод измерения диэлектрической проницаемости в миллиметровом диапазоне частот
Название на английском языке
Quasi-optical method of dielectric measuring in a millimeter frequency range
Язык (русский, белорусский, английский)
Русский
ФИО автора(ов)
К. Г. Батраков, А. С. Лобко
Автор(ы) на английском языке
K. G. Batrakov, A. S. Lobko
Организация
Институт ядерных проблем БГУ
Организация на английском
Institute for Nuclear Problems of Belarusian State University
Аннотация
При проведении в НИИ ЯП БГУ работ по созданию объемного лазера на свободных электронах (ОЛСЭ) возникает необходимость определения электродинамических свойств диэлектрических материалов, используемых в резонаторах и волноводах. В частности, при так называемом «холодном» моделировании процессов излучения в объемных дифракционных генераторах реальный электронный пучок заменяется имитатором в виде диэлектрического волновода с таким расчетом, чтобы фазовая скорость волны в волноводе совпадала со скоростью исследуемого электронного пучка. Для определения геометрических параметров имитатора необходимо знать диэлектрическую проницаемость ε материала волновода в рабочем диапазоне частот. Информация об этой величине для различных материалов в широком диапазоне частот необходима также при выполнении работ по созданию излучателей черенковского и квазичеренковского типа. Литературных и справочных данных из-за обилия всевозможных диэлектрических материалов (многие из которых при идентичном химическом составе могут иметь некоторые отличия в физических параметрах из-за различных технологий синтеза) во многих случаях недостаточно. По этой причине была разработана методика, рассматриваемая в данной работе.
Аннотация на английском языке
During the development of a volume free electron laser (VFEL) at the Institute for Nuclear Problems of Belarusian State University, it is necessary to determine the electrodynamic properties of dielectric materials used in resonators and waveguides. Specifically, in the so-called "cold" modeling of radiation processes in volume diffraction oscillators, the actual electron beam is replaced by a simulator in the form of a dielectric waveguide, such that the phase velocity of the wave in the waveguide matches the velocity of the electron beam being studied. To determine the simulator's geometric parameters, it is necessary to know the permittivity ε of the waveguide material over the operating frequency range. Information on this value for various materials over a wide frequency range is also necessary for the development of Cherenkov and quasi-Cherenkov emitters. Due to the abundance of various dielectric materials (many of which, despite having identical chemical composition, may have slight differences in physical parameters due to different synthesis technologies), literature and reference data are often insufficient. For this reason, the methodology discussed in this paper was developed.
Ключевые слова
объемный лазер на свободных электронах, электродинамические свойства, объемные дифракционные генераторы
Ключевые слова на английском языке
volume free electron laser, electrodynamic properties, volume diffraction generators
Дата публикации
2001-12-12
Количество страниц, число рисунков, число таблиц
6
Лицензия
Creative Commons CC BY-SA 4.0 International
Библиографические данные
Фундаментальные и прикладные физические исследования 1986 2001 гг. / Бел. гос. ун-т; под ред. В.Г. Барышевского. – Минск, 2001. – С. 226-231