Журнал издается с 1982 года. В журнале публикуются оригинальные статьи и обзоры по наиболее актуальным проблемам изучения поверхностных явлений. К ним относятся вопросы, связанные со структурой, свойствами, методами получения и исследования поверхности, тонких пленок и границ раздела. Особое внимание уделяется использованию рентгеновских, синхротронных и нейтронных методов анализа.
С 2007г. компания "Pleiades Publishing, Inc." и Международная академическая издательская компания «Наука/Интерпериодика» издает журнал на английском языке. За рубежом журнал распространяется издательством “Springer”.
Англоязычная версия журнала - Journal of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques

1. Геометрическая и энергетическая структуры поверхностей, методы компьютерного моделирования;

2. Физические и химические свойства, а также их изменение в зависимости от облучения и других воздействий;

3. Методы исследования пленок и приповерхностных объемов кристаллов;

• рентгеноструктурные и рентгеноспектроскопические;
• применение синхротронного излучения;
• нейтронографические;
• электронографические;
• электронно-микроскопические;
• сканирующая туннельная микроскопия;
• атомно-силовая микроскопия;
• различные методы, дающие сведения о поверхностях и тонких пленках.

Предпочтение отдается статьям, посвященным развитию методик и аппаратуры структурных исследований. Кроме статей, содержащих оригинальные результаты, возможно опубликование обзоров по теории конденсированного состояния, моделированию свойств материалов, теории переноса и рассеяния ядерно-физических излучений и частиц в веществе по предварительному согласованию с редакцией.

Ссылка на сайт журнала: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/